基于HPI的DSP SEFI检测方案
数字信号处理芯片(DSP)广泛用于空间电子系统,而空间辐射造成的单粒子效应(SEE)一直是影响DSP可靠性的重要因素.随着工艺尺寸减小,SEE对DSP可靠性的影响更加显著.单粒子功能中断(SEFI)是一种少有发生可是一旦发生就会造成系统功能中断的SEE.提出了利用外围模块对DSP SEFI进行故障检测的机制.由可编程逻辑门阵列(FPGA)作为外围模块,利用DSP的HPI接口,监控DSP的运行状态并进行SEFI检测.此方案的核心流程是:(1)FPGA主动向DSP发送非可屏蔽中断(NMI)信号,(2)DSP响应中断并向”状态映射区”更新运行时状态信息,(3)FPGA通过HPI读取DSP状态信息并对比”程序特征表”判断DSP是否正常.该方案能有效检测DSP的SEFI故障并能覆盖DSP的其他故障,同时对DSP可用性造成较小影响.
数字信号处理芯片 单粒子功能中断 故障检测 流程设计
孙健 杨恩山 胡瑜 李晓维
计算机体系结构国家重点实验室中国科学院计算技术研究所 北京100190;中国科学院大学 北京100190 计算机体系结构国家重点实验室中国科学院计算技术研究所 北京100190
国内会议
武汉
中文
384-390
2014-07-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）