大规模数字集成电路地面模拟单粒子试验方法研究
大规模数字集成电路单粒子效应地面模拟试验,是电子器件可靠性试验的重要组成部分,是集微电子、核物理、实验方法等为一体的系统工程.随着电子器件复杂度的提高,对地面模拟试验的试验方法与测试系统的设计提出了严峻挑战.本文探讨了大规模数字集成电路单粒子辐射效应试验方法和一种新的基于现场可编程技术(FPGA)设计的单粒子效应测试系统.测试系统包含一个运动控制分系统、多FPGA电测试平台和被测器件装载板,测试系统利用装载板可同时加载多颗被测样品,形成对比试验的电测试环境,可提供８组300通道的可编程测试接口,单端信号工作频率大于120MHz,适用于单粒子翻转(SEU)、单粒子闩锁(SEL)等辐射效应的测试.试验中,利用运动控制分系统进行被测样品切换、角度辐射控制和测试过程控制.
大规模数字集成电路 单粒子效应 测试系统 现场可编程技术
谢朝辉 刘海南 杨婉婉 赵发展 刘刚 罗家俊 韩郑生
中国科学院微电子研究所,北京市朝阳区北土城西路三号,100029
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2014-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）