170keV质子辐照对多壁碳纳米管微观结构与导电性能的影响
碳纳米管具有优异的导电性,是未来电子元器件的理想候选材料,应用前景广阔.针对碳纳米管在空间电子元器件的应用需求,本文研究了多壁碳纳米管低能质子辐照效应,采用扫描电子显微镜(SEM)、拉曼光谱仪、X射线光电子能谱仪(XPS)及电子顺磁共振谱仪(EPR)对辐照前后碳纳米管试样的表面形貌和微观结构进行分析;利用四探针测试仪对碳纳米管薄膜进行电性能分析.结果表明,170 keV质子辐照条件下,当辐照注量高于5×1014 p/cm2时,碳纳米管薄膜表面变得粗糙疏松,纳米管发生明显弯曲和收缩现象,170 keV质子辐照后碳纳米管的有序结构得到改善.随着辐照注量的增加,碳纳米管薄膜的导电性能变差,这是由于170 keV质子辐照导致碳纳米管薄膜中的电子特性及形态发生改变.
碳纳米管 微观结构 导电性能 质子辐照
杨剑群 李兴冀 刘超铭 马国亮 邹梦楠
哈尔滨工业大学材料科学与工程学院,哈尔滨150001
国内会议
西安
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1-10
2014-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）