基于狭缝光照明的偏光片外观缺陷检测技术
偏光片的外观缺陷(视觉缺陷、欠点)是影响TFT-LCD面板质量的重要因素之一,基于图像的外观缺陷检测方法是偏光片和面板生产厂家共同急需的关键技术.但是在普通照明条件下,一些很细微的外观缺陷无法清晰成像.针对这些特殊的缺陷,本文首次提出一种采用狭缝光照明的机器视觉检测方法,从而得到缺陷更加清晰的数字图像.在此图像增强的基础上,基于NI公司的LabVIEW和Vision Development Module(VDM),设计并编程实现了一种简单快捷的图像处理算法,采用形态学模板法成功地提取出缺陷的形状、位置和尺寸等信息.实验结果表明此方法可以有效检测多层透明聚合物薄膜的外观缺陷,而且可望用于快速的在线检测。
薄膜晶体管液晶显示器 偏光片 外观缺陷 故障检测 机器视觉 狭缝光照明
邓元龙 曾小星 刘飞飞 李学金
深圳大学机电与控制工程学院;深圳市传感器技术重点实验室 深圳大学机电与控制工程学院 深圳市传感器技术重点实验室;深圳市光纤传感网工程实验室,深圳,518060
国内会议
太原
中文
584-588
2014-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）