自偏置锁相环电路的分析与测试

摘要：

本文分析并设计了一种自偏置锁相环电路.基于其工作原理对自偏置锁相环的相位噪声进行分析得到:自偏置电路在锁相环中作用仅仅相当于一个预分频器.使用Agilent E5052B信号源分析仪测试了传统锁相环、自偏置锁相环以及普通偏置锁相环的相位噪声性能并进行比较.理论与测试结果表明,采用自偏置锁相环电路并不能有效改善锁相环带内相位噪声.

关键词： 自偏置锁相环 电路设计 相位噪声

作者: 郭伟 李智鹏 鲍景富

作者单位: 电子科技大学 成都 611731

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会电路与系统学会第二十五届年会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 1-4

在线出版日期: 2014-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）