嵌入式存储器容错方案可靠性评估

摘要：

随着工艺节点的不断降低,存储器的软错误率呈指数趋势上升,容错方案的选择已成为了存储器设计中的重要环节.本文对于错误检纠错码(EDAC:Error Detectionand Correction)和不同的在线刷新模式组成的多种系统级容错方案,依据NASA宇航局Rosetta实验数据,提出包含不同错误类型的可靠性模型,进行了量化评估,得出了不同工艺节点下嵌入式存储器容错技术选择的方法.

关键词： 嵌入式存储器 容错技术 错误检纠错码法 在线刷新 可靠性评估

作者: 支天 蔡刚 秋小强 杨海钢

作者单位: 中国科学院电子学研究所 北京 100190;中国科学院大学 北京 100190 中国科学院电子学研究所 北京 100190

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会电路与系统学会第二十四届年会

会议地点: 南京

会议语种:中文

页码: 1-9

在线出版日期: 2013-05-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）