一种电路老化预测的改进方案

摘要：

晶体管老化已经成为影响集成电路可要行的重要因素.引起的电路老化成为影响电路稳定性的重要原因.针对集成电路老化预测中由于稳定性检测器串联堆栈效应引起的检测偏差,提出了利用对称或非门结构的改进预测方案.仿真结果表明,改进的方案可以消除由于堆栈效应引起的检测误差.与两种经典结构相比较,该方案的版图面积开销为4.65％和7.06％.

关键词： 晶体管集成电路 电路老化 预测方法 堆栈效应 误差分析

作者: 徐辉 梁华国 黄正峰 易茂祥

作者单位: 合肥工业大学计算机与信息学院,合肥 230009;安徽理工大学计算机科学与工程学院,淮南 232001 合肥工业大学电子科学与应用物理学院,合肥 230009

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会电路与系统学会第二十四届年会

会议地点: 南京

会议语种:中文

页码: 273-282

在线出版日期: 2013-05-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）