LED光照场的数学建模研究
LED发光是由芯片经封装透射形成,所以不同封装结构的LED光强空间分布变化多异.在测量LED平均发光强度时,不同的空间分布在探测器接收面上的照度分布各不相同.当探测器面响应度分布均匀时,探测器面上的照度分布与探测器面响应器接受面上的照度分布.测量实验发现LED在探测器接受面上典型的照度分布主要有三类,分别表示为类余弦分布,类正弦分布和类梯形分布.根据测量数据,对类余弦分布和类正弦分布进行数学模型.经比较,数学模型能真实地表现探测器接受表面上LED的照度分布情况.这些工作为进一步探讨影响LED平均发光强度测量准确的诸多因素提供了丰富科学的数据,有利于准确评估LED平均发光强度测量结果的不确定度.
发光二极管照明 光照场 平均发光强度 照度分布
刘建 刘慧 赵伟强
中国计量科学研究院 ,北京 100029
国内会议
重庆
中文
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2014-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）