特征矩阵法模拟二维层状材料光学对比度
本文报道了使用特征矩阵计算二维纳米材料在不同基底上的光学对比度的原理和方法.本文证实了薄膜科学中的基础理论可以非常方便的运用到二维层状材料的光学性质的研究中。相比于用菲涅尔公式的方法研究二维层状材料的可见性，使用特征矩阵的方法更加简便快捷，而且适用于多层膜体系和异质结构。
二维半导体材料 二氧化硅 二硫化钼 光学对比度 特征矩阵法
李源鑫 王俊
中国科学院上海光学精密机械研究所强激光材料重点实验室上海市嘉定区390号,201800
国内会议
上海
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155-156
2015-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）