椭圆偏振光谱法研究金薄膜中自由电子弛豫时间

摘要：

近年来随着纳米加工工艺的发展,金纳米结构被越来越多地应用于各种元器件上,比如基于局域表面等离激元的超材料吸收体.当金薄膜的厚度小于块体金的自由电子平均自由程时,电子表面散射效应明显,其自由电子的弛豫时间不同于块体金的自由电子弛豫时间.在近红外波段,随金薄膜的厚度变化,自由电子弛豫时间发生相应改变,这种改变会影响基于金纳米结构的超材料吸收体的吸收率.所以,准确测量金薄膜的自由电子弛豫时间对预测和研究等离激元超材料吸收体有重要意义.

关键词： 薄膜材料 金纳米结构 椭圆偏振光谱法 自由电子 弛豫时间

作者: 张铭颖 张云 王子仪 孙艳 陈鑫 张荣君

作者单位: 复旦大学信息学院光科学与工程系,上海200433 中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室,上海200083

会议类型: 国内会议

会议名称: 上海市激光学会2015年学术年会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 169-169

在线出版日期: 2015-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）