谐振腔法测量W波段有耗介质材料

摘要：

本文利用谐振腔法测量w波段有耗介质复介电常数和磁导率.通过测量加载有耗介质谐振腔的谐振特性,即谐振频率和品质因数,以及它们与介电常数e和损耗角正切值tanδ的对应关系,从而获得介质样品的复介电常数.

关键词： 真空器件 w波段 有耗介质材料 复介电常数 磁导率 谐振腔法

作者: 侯筱琬 薛谦忠

作者单位: 中国科学院电子学研究所,中国科学院高功率微波源与技术重点实验室,北京,101400

会议类型: 国内会议

会议名称: 2015年第十届全国毫米波亚毫米波会议

会议地点: 福建泉州

会议语种:中文

页码: 190-192

在线出版日期: 2015-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）