会议专题

直流辉光放电质谱法测定高纯氧化钇中的杂质元素

利用钨粉作为导电介质,与氧化钇粉末混合均匀,压片,采用直流辉光放电质谱法测定了其中的杂质含量.考察了放电电流、放电气体流量以及两种粉末的混合比例等因素对放电稳定性以及灵敏度的影响,优化了实验条件.以氧化钇标准物质作为标样,对高纯氧化钇粉末中杂质进行定量分析,测定结果相对标准偏差在25%以内,测定结果优于无标样的测定结果,并且与ICP-MS法相吻合.

氧化钇 直流辉光放电质谱法 杂质元素

胡芳菲 李继东 刘英 刘鹏宇 宋永清 于磊

北京有色金属研究总院,北京100088

国内会议

第十五届全国稀土分析化学学术研讨会

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111-114

2015-08-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)