X射线显微镜纳米CT旋转中心随机偏移的校正
为校正全场透射X射线显微镜纳米CT扫描过程中转台旋转中心发生的随机偏移,抑制其导致的重建伪影,提出了一种基于样品投影质心公式和最小二乘正弦拟合的校正技术.首先,对探测器采集的数据进行对数解调获得二维投影正弦图;根据样品投影质心公式,逐行计算样品在每个CT旋转采样视角的投影质心位置;接着,利用最小二乘拟合技术,求取样品投影质心正弦曲线;最后,根据拟合得到的正弦曲线计算出纳米CT旋转中心在每个视角下的偏移量,并带入到重建公式中,实现旋转中心校正.以Shepp-Logan模型开展了仿真分析,并利用直径为60μm的纳米-微米复合材料在北京同步辐射装置全场透射纳米CT系统上进行了实验验证.结果表明:经本文方法校正后,归一化均方根重建误差小于0.3412,较校正前降低82％.本文方法能精确求解出系统旋转中心在每个角度的随机偏移量,实现旋转中心随机偏移校正,抑制重建伪影.与现有方法比较,应用性更强.
全场透射X射线显微镜 纳米计算机断层扫描 旋转中心 偏移校正
傅健 刘振中
北京航空航天大学 机械工程及自动化学院,北京100191
国内会议
长春
中文
645-651
2015-07-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）