X射线荧光分析在实物地质资料测试中的应用综述
分析实物地质资料元素构成及多种元素的准确定量分析已经成为实物地质资料研究中的重要内容，微区原位与现场分析成为地质分析的重要发展目标，因此研究一种能够快速、无损检测、多元素连续测定的绿色无污染的定量分析技术尤为重要。x射线荧光分析方法能提高分析的准确性和精确度，降低分析测试成本，保护实物地质资料的完整性，具有快速、无损检测、多元素连续测定等特点;对样品制备要求非常简单，运用结果校正方法，可以得出准确的数据，进而丰富实物地质资料信息，提高实物地质资料的服务水平，在实物地质资料管理、应用与服务方面具有极好的应用前景。
实物地质资料 x射线荧光分析方法 元素测定
汪艳芸 邓晃 井德刚
国土资源实物地质资料中心,河北三河,065201
国内会议
威海
中文
57-59
2015-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）