低功率便携式全反射X荧光分析仪的研制
全反射X射线荧光分析(TXRF)技术是一种高灵敏、快速的痕量元素分析技术.基于TXRF技术的便携式设备是近年研究热点,Kunimura和Kawai等人研究表明,利用功率低于10W的非单色X射线激发样品也能获得Pg量级的检出限,并且在低功率条件下多色光比单色光能达到更佳的检出限.因此，本项目采用低功率多色X射线源，设计了一台低功率便携式TXRF分析仪。通过相应实验结果表明:该仪器在实验条件下对Ga元素的检出限达到52pg，相对标准偏差RSD为1.14％。
全反射X射线荧光分析仪 仪器设计 痕量元素 检出限
张新磊 张焱 单卿 贾文宝 孔智灵 王蒙
南京航空航天大学材料科学与技术学院,南京210016
国内会议
威海
中文
82-83
2015-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）