粉末压片X射线荧光光谱法测定金属硅中Fe、Al、Ca杂质元素含量

摘要：

在有机硅单体生产中,原料金属硅中的杂质含量直接影响到二甲基二氯硅烷的一次选择性.根据GB/T 14849.1-14849.3,Fe、Al、Ca的含量是工业硅规格等级分类的依据,并采用化学分析法测定金属硅中的这些痕量元素,样品处理过程非常复杂,分析周期长,而且熔样过程中使用的氢氟酸、高氯酸有一定的操作危险性和不环保型.

关键词： 有机硅生产 杂质元素 粉末压片 X射线荧光光谱法

作者: 赵志强 过军芳 郑旭

作者单位: 浙江新安迈图有机硅有限责任公司,浙江建德,311604

会议类型: 国内会议

会议名称: 帕纳科第13届用户X射线分析仪器技术交流会

会议地点: 洛阳

会议语种:中文

页码: 199-201

在线出版日期: 2014-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）