硫酸钙下的玻璃绝缘子闪络电压计算探讨
绝缘子表面污秽成分复杂多样,对于可溶污秽成分,CaSO4与NaCl所占的比重最大.硫酸钙本身是弱电解质,溶解度较低,对闪络电压影响显著.本文用硫酸钙和氯化钠模拟可溶物,开展了LXY4-160绝缘子7片串的交流污闪试验,获取闪络电压值;继而用电导率仪器分别测得了氯化钠和硫酸钙溶液的电导率曲线,计算了硫酸钙对等值盐密的贡献;最后结合饱和附水量及电导率饱和特性,对硫酸钙下绝缘子串的闪络电压进行计算.研究结果表明,考虑到饱和附水量计算ESDD然后求得污闪电压,可以使误差在10％左右,但是仍有不足;在进行混合污秽成分下的闪络电压修正时,仅考虑电导率是不够的.本研究在一定程度上为其他污秽成分下绝缘子串闪络电压的修正方法提供参考.
特高压输电线路 玻璃绝缘子 闪络电压 硫酸钙 氯化钠
张东东 张志劲 蒋兴良 程洋 韦冬洪 朱俊宇
重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室,重庆400044
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2015-10-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）