光模块加速老化试验最佳温度的确定方法

摘要：

加速老化试验是对电子元器件进行寿命预测的有效方法.本文利用阿伦尼斯模型和SFP(小型可热插拔式)光模块中LED的电流-温度关系,计算SFP光模块加速老化试验的最佳温度.通过分析,证明了在不改变寿命预测结果的条件下,SFP光模块加速老化试验具有最佳温度,可以有效的缩短测试时间.

关键词： 发光二极管 光模块 加速老化试验 最佳温度

作者: 顾益双 舒勤 姜振超 黄宏光

作者单位: 四川大学电气信息学院,成都 610065 四川电力科学研究院,成都 610065

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电机工程学会电力通信专业委员会业务网及应用系统学组学术会议

会议地点: 深圳

会议语种:中文

页码: 42-46

在线出版日期: 2015-09-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）