V<,2>O<,5>复合薄膜中氧原子的化学状态
采用自洽场离散变分Xa(SCC DV Xa)方法对纯V<,2>O<,5>及V<,2>O<,5>复合薄膜不同状态的O<,1s>轨道电子态密度和键强度等进行了研究;采用X射线光电子能谱(XPS)分析了V<,2>O<,5>结构中氧的化学状态.计算结果与实验结果对比发现,V<,2>O<,5>结构中存在四种状态的氧,聚合物(PEO)或聚合物(PEO)-Li<”+>嵌入V<,2>O<,5>结构主要存在于层间的位置,层间物质的引入导致双键氧的含量降低,三键氧的含量增加.
V<,2>O<,5>复合薄膜 态密度 键强度 电子结构 电致变色
周静 陈文 武汉理工大学材料复合新技术国家重点实验室(湖北武汉) 徐庆 武汉理工大学材料复合新技术国家重点实验室(湖北武汉) 顾少轩
武汉理工大学材料科学与工程学院
国内会议
厦门
中文
1451-1453
2001-10-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)