工业CT测量影响因素及其提高途径研究
CT技术自诞生以来,首先被用于医疗诊断与材料检测,随着CT技术进步及测量精度的提高,CT应用范围逐渐扩展到工业产品的结构尺寸测量领域.目前医疗诊断、无损检测及尺寸测量成为CT技术三大应用领域.与传统接触式或光学非接触式三坐标测量设备相比,CT技术在对装配件测量以及具有复杂内部结构的产品的无损测量上具有独特的优势,可以用于跟踪工业产品制造环节的质量控制及公差评定等.但是由于CT技术测量过程受很多因素影响,像射线能量、样品条件、扫描方案、图像伪影等因素,目前为止对于具体的CT测量不确定度仍然无法给出确定的回答,关于CT测量的国际标准还在完善当中.本文从CT成像原理及基本组成出发对CT测量影响因素（包络系统硬件、软件、数据处理、被测物体、实验环境温度条件以及操作者等）进行了分类分析,然后针对CT测量过程中的问题提出了提高CT测量精度的方法.
工业计算机断层成像技术 无损检测系统 测量精度
李敬 陈浩 李寿涛 陈思 王远
中国工程物理研究院应用电子学研究所,四川绵阳621900;国家X射线数字化成像仪器中心,四川绵阳621900
国内会议
厦门
中文
194-204
2014-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）