蓝宝石基片上CeO2缓冲层的厚度对Tl-2212超导薄膜的性能影响

摘要：

本文报道了在蓝宝石上所生长的不同厚度的CeO2缓冲层对T1-2212薄膜超导特性的影响，并在此基础上研究了双面T1-2212薄膜的均匀性。CeO2缓冲层的厚度对T1-2212薄膜超导特性有较大影响。要提高T1-2212薄膜的超导参数，必须考虑界面扩散及缓冲层的表面粗糙度对Jc的影响，从而选择适当的CeO2缓冲层的厚度。实验表明，采用40nm的CeO2缓冲层，可以得到电学性能优良的T1-2212超导薄膜，并在此缓冲层上可以制备出结构、形貌和超导电性等均匀的双面Tl-2212薄膜。

关键词： 超导薄膜 电学性能 蓝宝石基片 氧化铈缓冲层 材料厚度

作者: 谢清连 黄自谦 方凤才 潘吟松 黄国华

作者单位: 广西师范学院物理与电子工程学院

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届广西青年学术年会

会议地点: 南宁

会议语种:中文

页码: 7-10

在线出版日期: 2010-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）