低能B离子辐照C60薄膜的红外光谱学研究

摘要：

用傅立叶变换红外(FTIR)光谱分析了能量为170keV的B离子在C60薄膜中引起的辐照效应.利用FTIR谱数据演绎出了C60分子的损伤截面σ和损伤半径R.比较了C60分子的4个红外激活模对辐照的敏感性与结构稳定性.分析结果表明红外激活模中的T1u(4)对辐照最为敏感.而T1u(2)相对稳定。

关键词： 碳60薄膜 低能B离子 辐照效应 损伤程度

作者: 金运范 付云翀

作者单位: 中国科学院近代物理所,兰州730000 中国科学院近代物理所,兰州730000;中国科学院研究生院,北京100049

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届中国核学会“三核”论坛暨中国毒理学会放射毒理委员会第八次全国会议

会议地点: 长春

会议语种:中文

页码: 199-202

在线出版日期: 2010-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）