老化与高温储存对活化能(Ea)晶体谐振器件影响及产品寿命评估
本文透过长时间(long-term)的可靠性老化(Operation Life)与高温储存(High Temper Storage)定义出影响晶体谐振器(Quartz Resonator)活化能(Ea)的机制与模型,进而可预估热或电压加速环境作用下对产品寿命的影响.此预估模型仅针对5.0 mm×3.2 mm的金属焊封晶体谐振器,并指出在纯粹仅有热加速因子的高温储存相对起同时有热与电压的可靠性老化有着较高的活化能;在热与电压两项加速因子影响下,活化能会随着长时间老化的作用呈现递减的趋势,进而大幅增加产品寿命预测的不合理性.现有台晶(宁波)電子5.0ramx 3.2ram金属焊封晶体谐振器的Ea值经回归验证分析后确认为0.578eV,通过阿伦尼斯(Arrhenius)加速寿命理论,可预测并保证经过可靠性老化85℃@168hrs(7天)的产品等效该产品于25℃连续工作7389hrs(0.83年)不失效.
活化能晶体谐振器 可靠性老化 高温储存 产品寿命 评估体系
沈俊男 杨晓玮 张建聪 赵岷江
台晶(宁波)电子有限公司
国内会议
厦门
中文
118-122
2010-12-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）