颗粒系统的平均法
颗粒系统可以用基于微观尺度的离散方法或宏观尺度的连续方法进行描述.发展联结这两类描述的平均法对于颗粒系统基础研究的发展具有重要意义.本文介绍一类如此的平均法,并讨论其在若干颗粒系统的应用.通过研究表明平均方法得到宏观大量的粒子相连续介质微观量的描述生成的离散模拟。这种方法提供了一个方便的联系方式基本了解DEM-based模拟生成的工程应用通常通过连续体建模。
颗粒系统 平均法 离散方法 连续方法
朱海平 余艾冰
澳大利亚西悉尼大学工程系 澳大利亚新南威尔士大学材料科学与工程系
国内会议
敦煌
中文
36-40
2010-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）