THRC12/13只读式非接触IC卡芯片测试方法研究及实现

摘要：

本文在对只读式非接解IC卡功能分析的基础上研究了只读式非接触IC卡芯片的测试方法,并介绍了我们自行研制的只读式非接解IC卡芯片测试系统的硬件接口和自动化测试软件.硬件部件着重论述了原理和结构,软件部分介绍了模块构成、功能及它们之间的相互关系.

关键词： 非接触IC卡芯片 测试硬件接口 自动化测试软件

作者: 高力立 羊性滋

作者单位: 清华大学微电子学研究所(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国第六届电子测量与仪器学术报告会

会议地点: 太原

会议语种:中文

页码: 167-170

在线出版日期: 2000-01-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）