DKDF提取技术在PCB制造中的研究和应用
随着信息技术的进步,高速背板、线卡、服务器技术日新月异,产品信号传输速率不断增加,作为电子、电气产品的重要组成部分,设计者对线路板的考量早已不再局限于其对整个电路的支撑作用,而是将其作为整个电路的一部分,分析和优化其电气性能,以保证系统的信号完整性能合乎要求.为了这个目的,对于Dk和Df的研究一直是设计者所关心的问题,精确的Dk和Df值将影响到整个前端仿真和阻抗模拟的准确度,越高端的电气产品,Dk和Df就越显得重要.本文围绕如何得到适合电路设计者使用的Dk和Df做出了说明和论证.通过文中的测试方法比较，不难看出，随着PCB产品发展趋向高速化，传统的低频下的测试方法已无法满足Dk和Df的测试精度和测试频率范围要求。业界一直在研究更适合PCB的测试方法，目前频域的测试方法已越来越完善，VNA设备以其高精度和抗干扰性的优势日益明显，使用频域S参数测试PCB样品的Dk和Df提取方式未来必将有更广阔的发展，值得深入研究。
印制电路板 制造工艺 介电常数 介质损耗因数 提取技术
刘丰 胡新星 苏新虹
珠海方正印刷电路板发展有限公司,广东 珠海 519175
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231-246
2014-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）