Rietveld全谱拟合方法在二次镍渣微晶玻璃中的应用

摘要：

利用金川提铁后的二次镍渣经过调质,在一定的热处理制度下能够制备成性能优异、主晶相为普通辉石的矿渣微晶玻璃.通过场发射电子显微镜(FE-SEM)发现,二次镍渣微晶玻璃晶体大小为200～300 nm;透射电子显微镜(TEM)与X射线衍射(XRD)等手段进一步证明该晶体是由30～40 nm更微小的晶粒团聚而成的.通过XRD步进扫描能够精确的测定微晶玻璃的结晶度、点阵常数等参数.

关键词： 二次镍渣微晶玻璃 Rietveld全谱拟合法 结晶度 点阵常数 晶粒尺寸

作者: 高术杰 倪文 张福利 张思奇 吴辉

作者单位: 北京科技大学土木与环境工程学院,北京 100083

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届尾矿与冶金渣综合利用技术研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 120-127

在线出版日期: 2014-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）