一种高效的随机存储器测试算法

摘要：

现代电子设备对存储器可靠性的要求越来越高.针对批量生产中处理器模块的随机存储器(RAM)测试的需求,分析RAM存储器的故障成因,建立故障模型并分析,对每一种故障模型均给出详细的测试方法,提出了一种覆盖率高、复杂度小的测试算法,对实际测试中提升测试覆盖率,减小测试复杂度具有一定的参考价值.

关键词： 随机存储器 故障模型 测试算法 安全运行

作者: 刘洋 孙允明 王乐

作者单位: 中航工业西安航空计算技术研究所 陕西 西安 710065

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国抗恶劣环境计算机第二十四届学术年会

会议地点: 江西九江

会议语种:中文

页码: 346-352

在线出版日期: 2014-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）