高可靠大容量固态存储模块实现技术
近年来,U盘、SD卡、固态硬盘等电子存储产品在商业领域广泛使用,以NAND FLASH为主的固态存储介质的集成密度、读写速率等不断提高,应用成本也降到了一个相对合理的水平.针对NAND FLASH存储介质的特点,结合大容量数据存储模块的工作原理,本文介绍了数据纠错、损耗均衡、过量配置、坏块管理、RAID等NAND FLASH可靠控制方法,并对进一步提高数据存储可靠性的数据流全路径数据校验与纠错技术、非正常断电保护技术以及实际使用中需考虑的数据加密、数据销毁等实现技术进行了分析与说明.
固态存储模块 数据容量 可靠性分析
郑笑建 吴洪成 邵胜敏
中国电子科技集团公司第五十二研究所 浙江 杭州 310012
国内会议
江西九江
中文
424-431
2014-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）