微波暗室内壁剩余强散射点的SAR成像诊断研究

摘要：

创新性地提出了采用SAR成像技术对微波暗室内壁剩余强散射点进行二维成像诊断,建立了相应的成像模型,选取了时域B-P算法作为成像算法,并对该算法在暗室内成像进行了仿真验证.仿真结果表明,时域B-P算法能够获得暗室内壁剩余强散射点分布的高分辨率、高精度二维像.采用SAR成像技术实现微波暗室内壁的二维成像诊断对经济、有效地提高暗室电性能具有实际的意义.

关键词： 微波暗室 内壁结构 剩余强散射点 合成孔径雷达成像技术

作者: 符礼 高志国 徐海涛 徐国兵

作者单位: 北京遥感设备研究所,北京 100854

会议类型: 国内会议

会议名称: 2014年全国军事微波技术暨太赫兹技术学术会议

会议地点: 湖南常德

会议语种:中文

页码: 21-24

在线出版日期: 2014-07-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）