基于测高仪和卫星就位观测的电离层F层峰上电子密度剖面的研究
本工作基于测高仪和卫星就位等离子体观测,采用Chapman剖面函数进行电离层F层峰上电子密度剖面的重构,进而从得到的顶部剖面推算标高。从统计上将它与测高仪得到的剖面标高进行对比,分析发现从底部电子密度剖面外推间接得到顶部剖面的可靠性需要改进。
电离层 电子密度剖面 测高仪 卫星就位观测
刘立波 黄河 陈一定 乐会军 宁百齐 万卫星
中国科学院地质与地球物理研究所 北京 100029
国内会议
北京
中文
1682-1682
2014-10-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)