太阳电池PID现象的数值模拟分析

摘要：

电位诱导衰减(Potential-induced degradation,PID)现象因其对晶硅太阳电池组件可靠性的巨大影响,而被业界普遍关注.本文就传统晶硅太阳电池的PID现象中可动电荷Na+在硅表面积累的影响,针对PID电池中的非漏电区域和漏电区域,分别采用扩展的肖克莱-里德-霍尔复合模型和双电荷层导致p-n结导通的假说进行了分析讨论.

关键词： 晶硅太阳电池 电势诱导衰减现象 数值模拟 可靠性分析

作者: 向昱任 周春兰 王文静

作者单位: 中国科学院太阳能热利用及光伏系统重点实验室,中国科学院电工研究所,北京 100190

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十四届中国光伏大会暨2014中国国际光伏展览会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 151-156

在线出版日期: 2014-11-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）