薄膜太阳电池组件PID影响研究

摘要：

光伏组件的电位诱发衰减(Potential Induced Degradation,PID)现象普遍认为存在于晶体硅光伏组件中.PID现象会造成组件的光伏性能的持续衰减,引起的组件功率衰减有时甚至超过50％,严重影响到组件的功率输出,而从组件外观上却看不到任何缺陷.PID现象引起广泛的关注,但行业内薄膜组件的PID相关的研究较少,本文主要研究PID对硅基薄膜太阳电池组件的影响.

关键词： 薄膜太阳电池组件 电位诱发衰减现象 光伏性能 输出功率

作者: 何登虎 曹向武 韩冲 张立伟

作者单位: 湖南共创光伏科技有限公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十四届中国光伏大会暨2014中国国际光伏展览会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 211-216

在线出版日期: 2014-11-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）