硅薄膜叠层太阳电池的准确性测量的方法探讨及改进
多结叠层太阳电池是有不同带隙的pn或pin半导体串联而成.在辐照强度、温度不变的情况下,光源的光谱分布发生变化时,电池的限流层可能发生变化,从而影响太阳电池的功率输出.由于硅基叠层薄膜太阳电池的光致衰减效应及光谱响应等因素,缺少相应的标准电池,其功率测试的准确性一直困扰着业界.同样,硅基薄膜太阳能组件初始阶段存在光致衰减效应,经过一定的光辐照量后性能趋于稳定.稳定后的太阳电池经过高温退火,组件功率又能恢复到初始状态.硅基叠层薄膜太阳电池的功率输出随着一年太阳光光谱的变化而出现特有的正弦曲线变化.为此,户外组件的测试过程中,除了满足一般太阳电池测试条件外,如太阳辐照强度、组件温度和风速,还需要考虑太阳光谱变化对组件功率的影响.本文基于户外数据,三结硅基薄膜太阳能组件在户外测试结果显示,光谱的变化是影响功率随季节变化而变化这一现象的关键因素.同时,在户内模拟太阳光对硅基薄膜组件进行加速老化,发现不同温度条件下,组件的衰减率是随着温度的升高而降低.进而,为硅基薄膜电池在不同区域的电站建设提供参考.
硅基薄膜叠层太阳电池 准确性测量方法 光致衰减效应 温度特性
彭福国 徐希翔 陈何辉 连重炎 周金银 吴洪宇 周成 倪利洲 洪承健 李沅民
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2014-11-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）