电感耦合等离子体质谱法测定高纯钨中二十六种痕量杂质元素

摘要：

采用电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯钨中二十六种痕量杂质元素,研究了质谱干扰和钨基体效应,应用屏蔽炬技术消除56Aro+等多原子离子对Fe、Ca、K等元素的干扰,采用在线样品标准加入法彻底消除基体效应.各元素的方法检出限(15σ)为0.03μg/g～0.45μg/g,对样品加标0.5μg/g的回收率在88％～116％之间.方法适用于纯度为99.999％的高纯钨中痕量杂质元素的测定.

关键词： 高纯钨 痕量杂质元素 电感耦合等离子体质谱法 基体效应

作者: 张颖 熊静

作者单位: 株洲硬质合金集团有限公司,湖南株洲,412000 硬质合金国家重点实验室,湖南株洲,412000

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十一次中国硬质合金学术会议

会议地点: 银川

会议语种:中文

页码: 210-214

在线出版日期: 2014-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）