高分子半导体复合薄膜垂直相分离分析新技术
高分子复合薄膜材料在高分子场效应晶体管、太阳能电池和热电器件领域有着广泛的应用前景。介绍一种测试薄膜中不同深度位置处吸收光谱的新方法，用于分析薄膜中不同深度位置处的组分分布。用聚(3-己基唆吩):聚苯乙烯(P3HT:PS) (5wt％P3HT)复合薄膜为例来阐述这种方法。薄膜在氧等离子体的作用下沿薄膜厚度方向逐步被刻蚀掉，用吸收光谱仪来检测薄膜在刻蚀过程中的变化。研究表明，P3HT主要富集在薄膜的上表面附近，而PS更多的靠近衬底。用这种材料制备的场效应晶体管，PS可屏蔽住衬底表面的大部分陷阱，从而有利于提高器件性能。认为这种分析方法可以用于分析其他高分子薄膜的垂直相分离。
高分子复合薄膜材料 垂直相分离分析技术 光谱吸收 组分分布
鲁广昊
西安交通大学前沿科学技术研究院,西安市雁翔路99号,710054
国内会议
成都
中文
595-596
2014-10-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）