薄膜源制样用于X射线荧光法测量溶液中的微量铀

摘要：

本文拟在制样过程中采用沉淀富集的方法，将一定体量的铀全部沉淀到滤膜上，以达到微量铀富集的目的，使样品可以送到X射线荧光分析的灵敏度，从而实现上述目的。

关键词： 微量铀 含量测量 X射线荧光法 薄膜源制样

作者: 徐琛 毛欢

作者单位: 环境保护部核与辐射安全中心

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国核化学与放射化学学术研讨会

会议地点: 云南大理

会议语种:中文

页码: 78-79

在线出版日期: 2014-10-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）