超大尺寸液晶面板蓝mura不良的分析研究
在超大尺寸液晶面板制备过程中,出现一种面板中心区域在高灰阶画面呈现大面积偏蓝(蓝mura)不良.本文利用盒厚测试仪(RETS-4600)、显微镜设备对蓝mura不良进行了分析研究.结果显示,不良区域比正常区域的盒厚小0.2um,不良区域阵列(array)与彩膜(CF)基板之间存在10～25μm的错位.蓝mura不良的直接原因是基板间局部错位,导致面板盒厚不均及像素开口率降低,使得不良区域较正常区域透过率降低.通过在设计中加长柱状隔垫物(PS)长度或增加垫枕(Pillow)数量来维持基板错位后的panel盒厚,有效改善了此不良.
超大尺寸液晶面板 蓝斑不良 盒厚测试仪 显微镜设备 优化设计
于海峰 黄海琴 崔晓鹏 林鸿涛 陈维涛 邵喜斌
北京京东方显示技术有限公司,北京,100176
国内会议
南京
中文
17-18
2014-10-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）