液晶显示屏线性碎亮点的分析与改善对策
本文分析和改善了TFT-LCD模组制程中线性碎亮点(Line Zara)不良,分析结果:由于抛光过程中彩膜(Colour Filter,CF)对盒内支撑物(Post Spacer,PS)与TFT摩擦导致PS表面聚酰亚胺(Polyimide,PI)层磨损,在液晶屏通电过程中,显示线性碎亮点不良.通过优化抛光(Polishing)工艺,镀ITO膜层工艺中真空释放时间延长,偏光(Polarizer,POL)贴附工艺压力速度优化,以上工艺优化组合使产品的线性碎亮点不良率从35％降低到0.4％.
液晶显示屏 线性碎亮点不良 抛光工序 工艺优化
范宇光 李京鹏 宋省勋 王威 闵泰烨 张学智
北京京东方光电科技有限公司,北京 100176
国内会议
南京
中文
108-110
2014-10-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）