IC芯片故障分析技术的原理及算法研究
故障分析已成为密码芯片的严重威胁并且是芯片安全测评的基本要求,攻击者对芯片注入故障以获取芯片的密钥或滥用其安全功能.由于现有研究对该技术的内在原理尚缺乏有效细致的分析,导致芯片安全设计和测评工作缺乏有力的理论依据.为此,本文重新审视了IC芯片的故障分析技术,从电路分析的角度论述了各种常用故障注入技术的基本原理;并以DES算法为例讨论了对分组算法进行差分故障分析,以及针对程序流程的故障分析原理;最后对各种常用的故障攻击防护措施的原理及有效性进行了讨论。
集成电路芯片 故障分析技术 安全测评 电路原理 分组算法
李贺鑫 王宇航
中国信息安全测评中心,北京100085
国内会议
长沙
中文
50-62
2014-10-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）