X射线荧光光谱法测定锰硅合金中钛、铝含量

摘要：

采用X射线荧光光谱法分析锰硅合金中铝钛含量.研究了仪器分析参数的设置,样品粒度的影响,制片压力与时间的选择等内容,提高了检测数据的准确度.测定结果与国家标准方法的测定值相符,相对标准偏差在0.19％～3.53％之间,可满足日常生产要求.

关键词： 锰硅合金 X射线荧光光谱法 钛含量 铝含量

作者: 于桂萍 刘冰 袁萍

作者单位: 中钢集团吉林铁合金股份有限公司技术中心 吉林 中国 132002

会议类型: 国内会议

会议名称: 第21届全国铁合金学术研讨会

会议地点: 长沙

会议语种:中文

页码: 411-414

在线出版日期: 2012-11-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）