基于ATE的8位超高速ADC动态参数测试

摘要：

本文提出了一种基于Advantest 93000型自动测试设备配合外挂高性能信号源SMA100A,对8位1.5GSPS的超高速ADC进行动态参数测试的方案;使用外挂信号源提供采样时钟和模拟输入信号,解决了93000与外部信号源之间的同步问题以及频率差异导致的采样不稳定问题,从而有效提升了自动测试设备的超高速AD转化器动态参数测试能力,在超高速ADC量产测试中具有广泛应用.

关键词： 半导体集成电路 模拟数字转换器 动态参数 自动测试机 外挂信号源

作者: 冯耀莹 杨晓强

作者单位: 中国电子科技集团公司电子第24研究所,重庆 400060

会议类型: 国内会议

会议名称: 2014`全国半导体器件产业发展、创新产品和新技术研讨会暨第七届中国微纳电子技术交流与学术研讨会

会议地点: 太原

会议语种:中文

页码: 600-606

在线出版日期: 2014-08-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）