X光镀层测厚应用技术探讨

摘要：

本文通过对X光镀层测厚仪的原理分析,结合实际应用过程中的一些问题,提出注意事项及解决措施避免由于操作不当所引起的测量误差,从而避免对镀层厚度的误判.

关键词： 金属材料 无损检测 X光镀层测厚仪 结构特征 误差分析

作者: 张俊

作者单位: 贵州航天电器股份有限公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 2009航空航天表面处理新技术研讨会

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 138-145

在线出版日期: 2009-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）