氧化锌压敏电阻器重复冲击作用下的失效机理

摘要：

本文以重复脉冲冲击作用下压敏电阻器失效的现象为研究对象,通过实验分析压敏电阻器重复脉冲冲击下的失效过程,用模型有效解释重复脉冲冲击下沿银面边缘形成熔洞击穿的失效机理.

关键词： 氧化锌压敏电阻器 失效分析 脉冲冲击作用 熔洞结构

作者: 张俊峰

作者单位: 陕西华星电子集团有限公司 咸阳 712099

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会敏感技术分会电压敏专业学部第二十届电压敏学术年会

会议地点: 深圳

会议语种:中文

页码: 8-15

在线出版日期: 2013-11-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）