热激电流(TSC)技术与ZnO压敏电阻直流老化实验

摘要：

热激电流(TSC)技术是一种用来研究ZnO压敏电阻的陷阱/激活能级、热激电荷及老化特性的简单有效的工具.通过对添加及未添加玻璃粉的ZnO压敏电阻直流老化实验中TSC探测到的激活能级为0.45eV.测试到的热激电荷QTSC是填隙Zn离子迁移的表征,添加玻璃粉的ZnO压敏电阻具有更少量的热激电荷QTSC,对比QTSC可方便评估ZnO压敏电阻老化特性.

关键词： 氧化锌压敏电阻器 直流老化实验 热激电流技术 寿命预测

作者: 范积伟 赵慧君 张小立 张振国 张照军

作者单位: 中原工学院 郑州 450007

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会敏感技术分会电压敏专业学部第二十届电压敏学术年会

会议地点: 深圳

会议语种:中文

页码: 19-21,7

在线出版日期: 2013-11-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）