JEM-2010型透射电镜设备改进与功能扩展
JEM-2010型透射电镜是日本电子株式会社(简称日本电子)90年代推出的高压高分辨通用型透射电子显微镜,主要用于观察固态物质显微形貌,分析晶体结构,检测微小物质的形貌和尺寸.本文主要针对作者单位早期引进的JEM-2010型透射电镜,在图像采集、处理及元素分析等方面存在的不足,以及原设备配置无法满足不断增长的测试需求,提出设备改进方案,升级透射电镜图像采集系统，开发电镜设备中能谱仪面、线元素分布分析功能，添置电镜样品进样装置，挖掘设备潜力,使设备功能得到充分扩展,更好地为科研服务.
透射电子显微镜 设备改造 功能开发 效果评估
储昭琴 朱晓光 孔明光
中国科学院固体物理所材料物理重点实验室,安徽 合肥 230031
国内会议
重庆
中文
117-118
2013-10-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）