正交试验法优选制作钨尖端条件的方法研究

摘要：

扫描隧道显微镜(scanning tunneling microscope,STM)的发明不但使人类能够洞悉原子世界,而且还能通过操纵原子改变世界.STM的极高分辨率与很多因素有关,其中探测元件针尖的质量就是一个最基本的因素.所以自STM发明以来,很多学者都致力于如何制备稳定、清洁、高分辨率的探针.本文针对用于STM的不同直径钨丝,在直流电化学腐蚀法中引入正交试验法,比较容易地优选得出了制备适用尖端的条件参数.

关键词： 扫描隧道显微镜 钨丝 正交试验 尖端条件

作者: 梁浩雁 戴琳 戴宏

作者单位: 昆明理工大学信息与自动化学院,云南 昆明 650051 昆明理工大学理学院,云南 昆明 650051 云南大学物理系,云南 昆明 650091

会议类型: 国内会议

会议名称: 2013年全国电子显微学学术会议

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 119-120

在线出版日期: 2013-10-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）