The Ontology of Patterns in Empirical Data

作者: James W.McAllistert

作者单位: Institute of Philosophy,University of Leiden,P.O.box 9515,2300 Ra Leiden,The Netherlands

会议类型: 国内会议

会议名称: 首届国际信息哲学研讨会

会议地点: 西安

会议语种:英文

页码: 493-503

在线出版日期: 2013-10-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）