关键词： TEM 高压电缆头故障分析
作者: 葛辽海 赵红
作者单位: 科学院长春应用化学研究所
会议类型: 国内会议
会议名称: 第十次全国电子显微学会议
会议地点: 大连
会议语种:中文
页码: 333
在线出版日期: 1998-01-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）