一类新的金属氧化物薄膜气敏元件的开发

简述了温变气敏元件的研发机理。用不平衡电桥原理设计了测量反应温变Δtrea的装置。给出了Δtrea随气体浓度C变化的规律Δtrea=A Cn/(1+BCm)(A,B,n,m>0,n>m)。提出了研制温变薄膜气敏元件的工艺流程。
气敏元件 反应温变 金属氧化物薄膜 工艺流程
秦海英 张宝财 李东华 裘南畹
济南市半导体元件实验所 济南 250014 山东大学物理学院 济南 250011
国内会议
2013‘全国半导体器件技术、产业发展研讨会暨第六届中国微纳电子技术交流与学术研讨会
大连
中文
285-289
2013-07-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)